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標旗受邀參加2017年國家注冊珠寶質檢師繼續教育培訓班輔助教學
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發布時間:2017-04-18 10:46:54 閱讀:2236

2017年3月29日,爲期三天的2017年國家注冊珠寶質檢師繼續教育培訓班在雲南騰沖出入境檢驗檢疫局進行,參加培訓人員均是珠寶玉石質量檢驗專業技術人員。廣州標旗電子科技有限公司受邀參加培訓班輔助教學,在培訓會上標旗自主品牌科思凱旗下珠寶檢測系統産品作爲教學儀器爲學員們學習如何檢測、鑒定珠寶玉石帶來重要的意義。此次培訓會我司工程師帶來的教學儀器主要是GEM-3000珠寶檢測儀、GLIS-3000珠寶發光成像分析儀、PL-3000光致發光測量儀。

在3月29日、30日由同濟大學亓利劍教授講授的《磷鋁石與綠松石的紅外光譜學差異特征及其鑒定意義》、《合成附生紅寶石與擴散處理紅寶石的寶石學差異特征及鑒定》、《擴散處理藍尖晶石的光譜學特征及其鑒定》、《産自墨西哥的含鈾綠色蛋白石》、《不同風化皮色(藍皮、黑皮、黃皮及染色)》、《猛犸牙的鑒定特征》等課題中,通過我司産品GEM-3000珠寶檢測儀,不僅通俗易懂的诠釋各種類型的珠寶玉石鑒定原理和方法,更通過儀器譜線圖向學員們具象的呈現了寶石合成與處理及其光譜學特征。同時對輻照琥珀提供參考性意見,爲解決近年市場迅速興起的琥珀鑒定提供可行性檢測方案。

我司工程師在培訓會上輔助教學

GEM-3000珠寶檢測儀可快速准確地對珠寶真僞和是否染色進行鑒定。其波長範圍從紫外到短波近紅外,能有效檢測數百種珠寶光譜反射特征曲線。其特點是無需進行樣品前處理、測量速度毫秒級、重現性高、抗幹擾性強,可直接檢測任意形狀大小的樣品,可自動測量磷光光譜。

而在亓利劍教授講授的針對鑽石《天然、合成及綜合處理小顆粒黃色鑽石檢測過程中面臨的問題及對策》的課題中,PL-3000光致發光測量儀通過光譜圖譜線峰值展現經過天然、合成及綜合處理後鑽石表現出的不同特征及鑒定方法。儀器針對鑽石市場准確、快速的檢測需求,破解最新的鑽石造假之法。

GTC寶石學院院長(左)、亓利劍教授(中)、我司總經理(右)

PL-3000光致發光測量儀,高效采集鑽石被激光激發後的發光光譜進行定性分析,通過光譜峰值對樣品進行鑒定,高效集成,靈敏度高。主要用于鑒別Ib型小顆粒黃色鑽石、天然Ia型鑽石、天然IIa型鑽石以及高溫高壓合成鑽石、CVD鑽石等。

而針對鑽石市場更多的批量小顆粒合成鑽石檢測需求,我司另一珠寶檢測神器——GLIS-3000珠寶發光成像分析儀應運而生,其運用天然鑽石與合成鑽石熒光圖和磷光圖明顯區別的原理進行鑒定,對任意形狀大小的批量厘鑽、批量鑲嵌鑽石進行快速排查。

通常批量小顆粒鑽石經過GLIS-3000珠寶發光成像分析儀,可快速篩選有問題的鑽石,然後將有需要值得進一步檢測的問題鑽石再經過GEM-3000珠寶檢測儀、PL-3000光致發光測量儀呈現的光譜圖進行測試和驗證,得出最大准確度對鑽石進行定性,這個過程形成了我們所稱批量小顆粒鑽石的檢測流程。

在此次培訓會上,我們的珠寶檢測儀器備受贊揚和認可,高效准確的特點不僅解決了珠寶玉石檢測行業難題,同時用自主研發專利技術以低成本制造使得儀器在市場中極具競爭優勢。

 
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