24小時在線咨詢
點擊這裏給我發消息 宋先生
點擊這裏給我發消息 鄭先生
Admesy色度計
OceanOptics光纖光譜儀
QSpec科思凱系列
采樣附件
光源
光纖
美國perkinelmer産品
P-POptica光譜儀
台灣益博思電子防潮箱
* 拉曼系統R-3000型光譜儀
* MiniSpark-3000手持拉曼分析儀
* Ventana 785拉曼光譜儀
* LIFS-405激光誘導熒光光譜儀
* PL-3000光致發光測量儀
* 顯微透過率測量儀(手機面板IR孔測量儀)
* TMS透過率測量儀(ir透過率測量儀)
* 衰減全反射探頭
* Planum-3000平面光學元件光譜分析儀
* LIBS-激光誘導擊穿光譜系統(MX2500+)

QSpec科思凱系列>> 透過反射率測試儀>>Sphere-3000光學元件反射率測量儀  

Sphere-3000 光學元件反射率測量儀

 

Sphere3000是一套全波長顯微球面光學元件光譜分析儀,能快速准確地測量各類球面/非球面器件的相對/絕對反射率。適用于凸透鏡、凹透鏡、鏡片等的鍍膜反射率測量。還可進行有幹涉條紋的單層膜厚或折射率測量。

 

Sphere3000光學元件反射率測量儀-特點:

Ø         顯微測定微小領域的反射率  物鏡對焦于被測物微小區域(φ60μm

Ø         CIE顔色測定  X Y色度圖,x, y, L, a, b, 飽和度,主波長等

Ø         檢測速度快  高性能探測器,能在幾秒內實現重現性高的測定

Ø         消除背面反射光 無需進行背面防反射處理即可快速准確地測定表面反射率

 

Sphere3000光學元件反射率測量儀-技術參數

型號

Sphere-3000I型)

Sphere-3000III型)

檢測範圍

380~800nm

360~1100nm

波長分辨率

1nm

1nm

相對檢測誤差

1%

0.5%

測定方法

與標准物比較測定

被測物再現性

±0.1%以下(2σ)        380nm~410nm                                                    ±0.05%以下(2σ)      (410nm~800nm)

±0.1%以下(2σ)

(380nm~410nm)                                                    ±0.05%以下(2σ)

          (410nm~1100nm)

單次測量時間

1s

精度

0.3nm

被測物N.A.

0.12(使用10×對物鏡時)                                                                                  0.24(使用20×對物鏡時)                                                                                   

被測物尺寸

直徑>1mm

厚度>1mm(使用10×對物鏡時)

厚度>0.5mm(使用20×對物鏡時)

被測物

測定範圍

φ60μm(使用10×對物鏡時)                                                                            φ30μm(使用20×對物鏡時)

設備重量

15kg(光源內置)

設備尺寸

300(W)×550(D)×570(H)mm

使用環境

 水平且無振動的場所

溫度:23±5

        濕度:60%以下無結露;

操作系統

Windows XP, Windows VistaWin7

軟件

分光反射率物體顔色單層膜厚(有幹涉條紋)和鍍膜(有幹涉條紋)折射率測定

尺寸

480*400*580mm

相關産品:
TMS透過率測量儀(ir透過率測量儀)
Planum-3000平面光學元件光譜分析儀
OTM 肉厚測量儀(非接觸式鏡片厚度測量儀)
Sphere-3000光學元件反射率測量儀
顯微透過率測量儀(手機面板IR孔測量儀)
版權所有 2007 廣州標旗光電科技發展股份有限公司 www.aztshirt.com
地址:廣州市蘿崗區廣州科學城彩頻路7號C座701
電話:(020)38319602 38319620 傳真:(020)38319595 ICP備案:粵ICP備16049535號