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QSpec科思凱系列>> 透過反射率測試儀>>Planum-3000平面光學元件光譜分析儀  

Planum-3000平面光學元件光譜分析儀

全自動透光率/反射率分析儀

型號:Planum-3000

用途:用于各類平面光學元件的反射、透射光譜快速測量。可進行多角度相對/絕對

反射率、透過率測量,偏振光測量,膜性測量。

Planum-3000平面光學元件光譜分析儀-適宜測量範圍:棱鏡、平行平板、鏡面等平面光學性能。

 

                         操作軟件界面

 

平面光學元件光譜分析儀的技術參數:

 

型號 Planum-3000(Ⅰ型) Planum-3000(Ⅲ型)
探測器 Sony線形CCD 陣列 Hamamatsu背照式2D-CCD
檢測範圍 380-1000nm 360-1100nm
波長分辨率 1nm 1nm
信噪比(全信號) 250:1 1000:1
相對檢測誤差 ﹤1%400-800nm 0.2%400-800nm
重複定位精度 0.005°
透射測量角度 0-80°(小樣品0-50°)
反射測量角度 10-80°(可擴展到5°)
樣品尺寸 Φ5mm
單次測量時間 <1ms
S/P光測量 支持
其他 可自定義打印報告格式,開放式光學材料數據庫

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