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美國perkinelmer産品>> 電感耦合等離子光譜儀>>Optima 7000全譜直讀電感耦合等離子體發射光譜儀(PerkinElmer)  

 

 

 

 

 

技術參數

進樣系統
組合式設計快速可拆卸進樣系統,具有預恒溫系統。耐腐蝕配置: 50% (v/v)HCl,HNO3,H2SO4,H3PO4,20%(v/v) HF,30% (w/v)NaOH。
炬管噴射管:2.0mm剛玉材料。
霧化室:Ryton 材料耐腐蝕霧室。
霧化器:正交霧化器,剛玉寶石噴嘴。
蠕動泵:有SmartRinse智能沖洗功能。


等離子體系統
專利的等離子體雙向觀測系統
(U.S. Patent No. 5,483,337),計算機控制自動切換觀測方式 ;軸向、側向觀測位置由軟件控制自動優化。獨立雙開門等離子體腔室,具有恒溫系統,實現等離子炬在線可調。


氣路控制系統
所有氣體爲全自動控制。
霧化氣由高精密質量流量控制器控制,
流量0~2.0 升/分,增量0.01 升/分。


射頻發生器
40.68MHz 自激式固態射頻發生器,功率輸出:750~1500瓦,增量 1瓦。
穩定性: 實際功率波動 <0.1% (具有TPC真實功率控制專利) 。
能量傳輸:>81% 能量傳輸效率。
安全防護:符合 FCC 和EC VDE 0871 Class B 標准
長壽命無消耗性部件。


光學系統和檢測器
專利的光強度自動分組技術(U.S. Patent No. 5412468),中階梯光柵雙光路色散分光系統與最先進的CCD檢測器(U.S. Patent No. 4820048),自動決定每一條譜線的爆光時間,一次分析獲得所有譜線的強度,同時獲得背景的信息。
光譜範圍:165nm~850nm。
分辨率:200nm處0.003nm。


軟件
全中文軟件,全中文報告,全面的軟件控制。
專利的多譜線擬合技術(U.S. Patent No. 5308982)。


靈敏度
旋流霧室和同心霧化器(單位:cps / ppm)
Mn 257.610nm > 8.5×106,Al 396.153nm > 1×106,Ni 231.604nm > 3×105
As 193.696nm > 1.5×104,Pb 220.353nm > 5×104,P 213.617nm > 3×104


主要特點

PerkinElmer—全球銷量最大的全譜直讀ICP光譜儀制造商
Optima 7000 新一代全譜直讀電感耦合等離子體發射光譜儀

耐HF酸的標准配置
40.68MHz自激式固態射頻發生器
雙向觀測,雙分光系統,雙檢測器
全中文、英文雙語軟件


儀器介紹

適應性最強的耐HF酸進樣系統
超強的耐高鹽、耐酸堿性能
Optima 7000標准配置的霧化系統爲強耐腐蝕的配置。
霧化器爲正交霧化器,其特點是高鹽分進樣時不會堵塞,可以直接進飽和食鹽水溶液!此外在霧化器噴嘴裝有耐腐蝕的寶石噴嘴,使其具有極強的耐HF、堿、王水、有機溶劑的能力!
霧室采用耐腐蝕的Ryton專利技術制成,耐高濃度的HF、堿、王水、有機溶劑,且這種霧室物理強度大,不象玻璃霧室那麽易碎,靈敏度高,穩定性好,記憶效應低。
總之,Optima 7000進樣系統沒有更換霧室的繁瑣操作,可進行50%HCl、HNO3、H2SO4、20%HF及30%NaOH分析,一套進樣系統相當于其它公司的標准配置進樣系統 + 一套有機進樣系統+ 一套耐HF進樣系統 + 一套耐高鹽進樣系統。

最簡潔的設計實現最容易的維護
雙開門設計ICP進樣系統不僅使霧室和等離子炬拆卸方便,而且在點火工作狀態下可以進行調整,同時射頻發生器的射頻輻射防護最爲全面,射頻輻射泄漏在業界最小。
搭扣設計使拆卸非常方便,無需拆下樣品倉即可拆卸、清洗或更換進樣中心管。
雙開門設計還隔絕了等離子體高溫對霧化器和霧室溫度的影響,提高了儀器的穩定性。
一體化的進樣系統和卡口式的設計使得進樣系統的拆卸極爲方便,只需用手而無需使用任何專用工具即可在1分鍾內完成。
Optima 7000的進樣系統通道短,因此大大減少了樣品流經管道的時間,軟件具有專利的Smart Rinse功能,智能化地決定樣品間的沖洗時間。

最優異的性能
PerkinElmer公司向用戶提供的檢出限都是在儀器標准配置的耐HF酸寶石噴嘴正交霧化器和耐HF酸的Ryton材料Scott霧室上做出的數據,如果用戶的樣品絕不含有HF酸和高鹽份,則也可以選擇同心霧化器和旋流霧室,檢出限能夠得到進一步的改善。

最先進的射頻發生器——
固態射頻發生器
全新設計的40.68MHz自激式發生器采用新一代的固態電路技術,整個發生器主體僅爲一塊高集成化的線路板,無功率管等發熱部件,元器件壽命比功率管高10倍以上,可靠性強、穩定性好、能量耦合效率高,儀器體積也大大減小,使Optima 系列ICP-OES成爲一台緊湊的桌面型儀器。

40.68MHz激發頻率的射頻發生器
衆所周知,隨著頻率的增加,振蕩器産生的能量能更有效地傳遞到等離子體,傳輸效率大大提高,使點火更容易,並可采用小功率以減少背景噪音和延長發生器的壽命。同時,等離子體對樣品的適應性更好,不會在樣品改變時滅火。此外,由于中心通道的變寬,可以使用大孔徑的進樣管,使得高鹽樣品不堵塞。因而采用40.68MHz激發頻率要遠優于27.12MHz。
采用Perkin Elmer 自行設計生産的 40MHz 自激式高頻發生器,高頻發生器完全按照儀器具體要求進行設計,和儀器完美的組合爲一體,達到最佳的表現性能。完全避免了由于不同廠家的産品所造成的不匹配。
自激式射頻發生器
自激式發生器結構簡單,匹配速度快,傳輸效率高,工作狀態更加穩定,避免了晶控它激式發生器由于響應速度慢而導致的不穩定和滅火現象。
Optima 系列ICP-OES還運用了專利的真實功率控制技術(TPC),采用功率實時監控和反饋技術克服了外界電壓變化引起的漂移和不穩定,實現了功率的1W連續可調,可滿足不同分析的需要,遠優于其它大步長變化功率的廠家。

最全面的控制
PerkinElmer的電子工程師在系統中采用了全新的電子控制技術,使用了多個CPU獨立控制儀器各個部分。大規模集成電路和模塊化的設計,使儀器故障率極低。
Optima 系列ICP-OES是唯一真正的,功能齊備的全自動控制 ICP光譜儀,整個儀器僅僅只有一個電源開關,其它非常完善的功能全部采用計算機自動控制。


最成功的雙向觀測ICP-OES

側向觀測、軸向觀測的優點與不足
衆所周知,采用軸向觀測的檢出限比側向觀測可改善達10倍。在大量基體存在時,絕大多數元素的檢出限會得到明顯改善,這對分析痕量元素十分有利,例如測定鋼鐵中痕量As、Sb等有害元素時,軸向觀測就充分顯示了其優越性。
但由于軸向觀測時光強呈數量級地增加,如果只有軸向觀測,則測量高含量的元素時只能選擇次靈敏線,但這常常會受到限制,例如Na含量較高時589.583nm譜線強度過高,而其330nm譜線受到Zn的強烈幹擾,因此在分析高含量元素時采用側向觀測較爲合適。傳統垂直觀測型ICP-OES的不足是測定不同的元素時需要優化不同的觀測位置。

DualView(DV)-最成功的雙向觀測
Optima 7000采用專利的雙向觀測技術,使用戶可以在一次分析中同時獲得兩種觀測方式的優點,無論是軸向觀測還是側向觀測,其觀測的位置全部由計算機自動優化,並有簡潔實用的空氣切割技術消除尾焰,此外,光路中加入了衰減器,可自動進行軸向/側向,全光/衰減等四種選擇,不僅提高了靈敏度而且擴大了線性範圍,大大增加了分析的靈活性,提高了分析性能。
PerkinElmer公司的雙向觀測設計以及304L B.S. 81G不鏽鋼標准的分析結果。這裏分析Mo、Nb需要使用耐HF酸的進樣系統,分析低含量的B需要軸向觀測方式,而高含量的Cr則需要徑向衰減觀測模式。

靈活易用的全中文高智能化操作軟件
簡單易用、功能強大的中文軟件
基于Windows?XP的WinLab 32操作系統,功能強大,支持真正的多任務、多用戶操作;原始數據具有不可覆蓋性,對原始數據所作的所有合法修改均有記錄,在出具檢驗報告時其數據具有合法性和可追溯性,滿足法規要求及國際認證慣例。
軟件具有模擬運行和離線運行功能,尤其適合于教學和數據分析。
儀器的操作完全實現自動化,包括觀測方向及高度選擇、氣體流量控制、RF功率調節、故障診斷等。
自動調節積分時間,每次測量前根據預曝光得到的信號強度自動選擇合理的分析時間,積分時間最小可達1ms。
業界最全的50000條譜線庫和軟件定性、半定量功能大大增強對未知樣品的剖析能力。
具有同時扣背景的能力,對于複雜樣品還可以使用方便、有效、可靠的譜線幹擾扣除功能MSF。

專利的譜線解析功能-多譜擬合技術(MSF)
PerkinElmer獨有的扣除光譜幹擾功能,解決了ICP-OES分析複雜基體樣品中的譜線幹擾問題。其原理是利用現代化學計量學和多元線性回歸算法,在分析複雜基體樣品時,通過數學模型將分析譜線從幹擾光譜中剝離出來。
由于只需保持峰型穩定,所以該模型通常與樣品濃度及特定的離子狀況等無關,因此實際應用非常方便,只需噴入空白溶液、待測元素溶液及幹擾元素溶液即可。
該方法不但扣除光譜幹擾效果顯著,還可提高信噪比,進一步改善檢出限。

擴展儀器功能的高級選項
高精密度質量流量計選項
進樣系統的霧化氣采用比轉子流量計更先進的高精度質量流量計進行控制,不僅提高了精度,而且可以自動調節任意流量,最小步長爲0.01升/分,對于不同樣品的工作條件均可得到優化。
  
形態分析選項、微區分析選項
利用此選項,可以和FIAS、HPLC、GC、CE等儀器聯用,實現砷、鉻、汞、碲、硒、錫、鉛、銅、錳、釩、鉑、鎳和溴等元素的形態分析。利用Optima 7000,可以在一次分析中同時分析As、Se和Cr的形態。此外,和激光燒蝕(LA)聯用,還可以對塗層、頭發、多晶、礦石等進行微區和微表面分析。

快速自動分析選項
可達1260個樣品位置,每小時分析超過500個樣品,在ICP-OES讀數分析時自動進樣器取下一個樣品,使得讀數延遲的時間縮短到1秒。樣品消耗量0.1毫升。

 

 

 

 

 

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